背散射电子成像在纳米多层膜形貌观察中的应用

• 作者: 毛栋 董磊 董雷 赵梦鲤
• 来源期刊: 大学物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 背散射像 纳米多层膜 分辨率 分析准确度 取出角
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 物理实验
• 页码范围: 40-44
• 页数: 5页
• 分类号: O4-33
• 语种: 中文
• DOI: 10.16854/j.cnki.1000-0712.190101

摘要

本文以背散射成像技术在扫描电镜观察纳米多层膜形貌中的应用为背景,简要介绍了扫描电子显微镜背散射电子成像的工作原理,并从分析准确度、分辨率及取出角对背散射电子成像影响的3个角度研究了其在纳米多层膜表面形貌观察中的应用.结果表明:利用扫描电镜背散射电子成像技术可有效表征纳米多层膜样品微区成分变化,能够快速了解样品的组成和结构特征,其分析准确度、分辨率均在纳米量级.该方法可为纳米多层膜调制结构的表征及鉴别提供快速、简便、有效的分析手段.同时,对该技术的探讨将帮助物理学专业学生更好的理解背散射现象的物理机制,帮助材料专业的学生更好的应用该表征技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董雷		13	7	2.0	2.0
2	董磊		17	30	3.0	4.0
3	赵梦鲤		9	17	3.0	4.0
4	毛栋		2	3	1.0	1.0