电子膨胀阀线圈失效研究

• 作者: 于磊 胡煜刚 胡盛文 韦贝贝
• 来源期刊: 家电科技
• 学科: 工学
• 关键词: 电子膨胀阀线圈 低温失效 绝缘层壁厚 绕线变形 线圈注塑
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 家电材料研究专题
• 页码范围: 117-119
• 页数: 3页
• 分类号: TB6
• 语种: 中文
• DOI: 10.19784/j.cnki.issn1672-0172.2020.04.021

摘要

为研究电子膨胀阀线圈在低温工况下失效的原因,剖析了电子膨胀阀线圈注塑工艺、绕线结构、环境工况及其绝缘层壁厚等之间的关系,发现线圈绝缘层因热胀冷缩引起绝缘层开裂,冷凝水进入线圈细微的裂缝,使线圈的绝缘性能降低,导致线圈失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡煜刚		3	0	0.0	0.0
2	于磊		3	0	0.0	0.0
3	胡盛文		4	0	0.0	0.0
4	韦贝贝		2	0	0.0	0.0