一种基于ATE的SerDes物理层测试方法

• 作者: 季伟伟 张凯虹 朱江
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 串行解串器 自动测试设备 可测性设计 源同步
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1111

摘要

串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域.SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响.大多数厂商采用仪器仪表与评估板来评估待测器件(DUT)的方式效率低下,只适用于产品评估阶段.基于自动测试设备(ATE)与可测性设计(DFT)相结合的方式,采用高速串行接口源同步测试技术、测试通路校准与补偿等技术,对SerDes产品的功能、发送和接收端参数进行全面的测试,实现高速接口的快速准确测试,并可适用于其他同类SerDes芯片测试.