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摘要:
在减少清洗液对晶圆表面腐蚀的前提下,尽可能地去除表面残留的苯并三唑(BTA)是Cu互连化学机械抛光(CMP)后清洗的研究重点.选择了两种非离子表面活性剂聚乙二醇辛基苯基醚(Triton X-100)和脂肪醇聚氧乙烯醚(AEO-20)与质量分数为0.02%的FA/OⅡ螯合剂复配成碱性清洗剂,研究其对Cu表面BTA的去除效果,对其作用机理进行了分析.接触角和电化学测试结果表明,两种清洗剂均改善了Cu表面Cu-BTA的去除效果.其中FA/OⅡ螯合剂与质量分数为0.22%的Triton X-100复配清洗Cu表面后,接触角降为37.75°,腐蚀电流密度增大到2.424×10-6 A/cm2;与质量分数为0.25%的AEO-20复配清洗Cu表面后,接触角降为32.5°,腐蚀电流密度增大到2.657×10-6 A/cm2;当AEO-20与FA/OⅡ复配清洗液pH值为10.5时,几乎不影响BTA的去除效果,但Cu表面的粗糙度降至5.59 nm.
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文献信息
篇名 基于FA/OⅡ螯合剂的复配清洗液去除Cu-BTA的研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 复配清洗剂 Cu苯并三唑(BTA) FA/OⅡ螯合剂 聚乙二醇辛基苯基醚(Triton X-100) 脂肪醇聚氧乙烯醚(AEO-20) 碱性清洗剂
年,卷(期) 2020,(10) 所属期刊栏目 半导体制造技术
研究方向 页码范围 782-789
页数 8页 分类号 TN305.2
字数 语种 中文
DOI 10.13290/j.cnki.bdtjs.2020.10.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 檀柏梅 85 534 13.0 18.0
2 王亚珍 2 0 0.0 0.0
3 张师浩 2 0 0.0 0.0
4 田思雨 2 0 0.0 0.0
5 王淇 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
复配清洗剂
Cu苯并三唑(BTA)
FA/OⅡ螯合剂
聚乙二醇辛基苯基醚(Triton X-100)
脂肪醇聚氧乙烯醚(AEO-20)
碱性清洗剂
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
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18-65
1976
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