基于微波透射法的瓷质绝缘子XWP-70劣化检测

• 作者: 万勋 刘正庭 吴润琪 姚建刚 尹骏刚 汪霄飞 龚政雄
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: 微波透射法 瓷质绝缘子劣化检测 微波透射角度 检测距离 天线极化
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 207-214
• 页数: 8页
• 字数: 4600字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2020.04.034

摘要

为了对瓷质绝缘子进行非接触式快速无损检测,提出一种基于微波透射法的绝缘子劣化检测方法.该方法根据介质中均匀平面波传输理论,对微波在绝缘子内部及交界面的传播过程进行分析.通过将绝缘子复杂结构简化成均匀介质层,建立了微波在绝缘子内部及交界面传输过程的数学模型.利用矢量网络分析仪和毫米波天线搭建了微波检测平台,对从现场取回的绝缘子样本进行对比实验.所实测的散射参量S21幅值差异的最大值达到16 dB以上,灵敏度较高,初步证明了微波透射方法应用于瓷质绝缘子劣化检测的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚建刚	湖南大学电气与信息工程学院	221	4287	36.0	52.0
2	龚政雄		5	6	2.0	2.0
3	万勋	国网湖南省电力有限公司电力科学研究院	11	46	4.0	6.0
4	刘正庭	湖南大学电气与信息工程学院	3	1	1.0	1.0
5	尹骏刚	湖南大学电气与信息工程学院	9	3	1.0	1.0
6	汪霄飞	国网湖南省电力有限公司电力科学研究院	6	4	1.0	2.0
7	吴润琪	湖南大学电气与信息工程学院	1	0	0.0	0.0