基于探针连接器的弹性测试技术研究

• 作者: 吕英飞 廖翱 笪余生 肖晖 陈忠睿 陈涛
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 探针 弹性测试 射频
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TN305.94
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0914

摘要

采用压接式探针连接器对BGA封装微模块进行高效率、无损伤测试会发生测试曲线畸变失真现象.仿真分析测试模具引入导致“微模块-测试模具-测试板”组成的测试系统性能变差的原因.详细分析了介电常数、限位间距、限位间隙等参数对系统射频传输性能的影响,发现介电常数和限位间隙的变化对系统性能的影响较大,限位间距变化时系统的性能几乎不变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈涛		23	41	4.0	4.0
2	肖晖		3	0	0.0	0.0
3	廖翱		3	2	1.0	1.0
4	吕英飞		3	1	1.0	1.0
5	陈忠睿		4	6	1.0	2.0
6	笪余生		1	0	0.0	0.0