基于CT优化工艺参数的断路器缺陷检测研究

• 作者: 万书亭 王志欢 郝广超 刘荣海
• 来源期刊: 电力科学与工程
• 关键词: 断路器 缺陷检测 计算机断层成像技术 工艺参数
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 页码范围: 44-50
• 页数: 7页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.ISSN.1672-0792.2020.12.007

摘要

为准确判断出35kV断路器内部缺陷故障类型,引入了一种基于计算机断层成像技术(computed tomography,CT)的电力设备检测方法.针对工业CT系统的相关工艺参数采用控制变量法设计对比试验进行优化研究,得到了射线源电压、射线源电流、投影幅数、滤波片厚度、机械系统参数、焦点尺寸和探元尺寸对CT断层图像质量的影响规律,得出工业CT检测的一组最佳检测工艺参数组合.利用最佳组合参数以及各参数影响规律,对得到的断层图像进行三维立体重建,成功判断出35 kV断路器内部断裂缺陷出现位置及其缺陷尺寸,并对比了早期DR平面成像检测技术的不足,最终通过断路器极柱实际解体验证了工业CT检测断路器内部缺陷方法的可行性.