一种用于线粒体受激辐射损耗超分辨成像的新型探针

• 作者: Samanta Soham 严伟 屈军乐 张佳 杨志刚 王佳林 王璐玮
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 受激辐射损耗显微 超分辨成像 荧光探针 线粒体 活细胞成像
• 年，卷（期）: 2020,（16）
• 所属期刊栏目: 物理学交叉学科及有关科学技术领域
• 页码范围: 304-312
• 页数: 9页
• 字数: 4033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.69.20200171

摘要

受激辐射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微技术通过巧妙的光学设计,利用纯光学的方法突破了光学衍射极限,空间分辨率达到纳米量级,并保留了荧光显微的许多优点.然而,高的损耗光强度限制了STED显微技术的广泛应用,尤其在活细胞成像方面.本文找到了一种新型的具有良好线粒体靶向性的STED探针,具有较强的抗光漂白特性和较低的饱和擦除光强度3.5 mW(1.1 MW·cm–2),利用该探针最高可获得62 nm的空间分辨率,为活细胞线粒体STED超分辨成像提供了新的手段.