硫腐蚀对绕组绝缘电寿命的影响及导致绝缘失效的故障机制研究

• 作者: 丁咚 杨丽君 邓帮飞 高思航
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 硫腐蚀沉积 绝缘绕组 电老化 电寿命 故障机制
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘
• 页码范围: 1612-1621
• 页数: 10页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20181206028

摘要

硫腐蚀沉积已被证实会导致油浸式电力设备绝缘性能下降,进而引发绝缘故障.为探究硫腐蚀对设备绝缘击穿特性的影响,并进一步分析其导致绝缘失效的故障机制,在实验室制备了3种不同硫腐蚀程度的绝缘绕组样品,利用多样品绝缘材料的电老化试验平台,对3种不同硫腐蚀程度的绝缘绕组,分别开展了其短期击穿试验与4个不同电压下的加速电老化试验,并以绝缘击穿失效作为电寿命终点,以反幂函数作为电寿命模型,分别计算对比了其寿命指数.结果 表明:硫腐蚀污染对多层绝缘纸包覆的绝缘绕组短期击穿强度影响不大,但会降低绕组的长期电寿命;相比于无腐蚀绕组样品,严重硫腐蚀绕组样品的电寿命指数下降了约19.38％,硫腐蚀产物在绕组上的沉积会明显导致绕组的长期电寿命下降.进一步结合不同硫腐蚀程度绕组样品的绝缘纸层的理化/电气特性参数变化测试结果,探讨了硫腐蚀沉积导致绕组绝缘失效的故障机制.