基于威布尔分布的某半导体器件贮存寿命分布规律初探

• 作者: 刘剑 王乔方 王冲文 罗瑞 赵远荣 郑万祥
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 威布尔分布模型 失效分布函数 可靠性 特征寿命 可靠寿命 MTBF Arrhenius模型
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 1077-1080
• 页数: 4页
• 分类号: TB114
• 语种: 中文

摘要

对有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)微型显示器件进行90℃、80℃、70℃的高温贮存试验,获得产品的失效数据.基于威布尔分布模型,采用最小二乘法进行参数估计,对失效数据分析,获得OLED微型显示器件失效分布函数.应用经典可靠性理论,计算产品在90℃、80℃、70℃的特征寿命、可靠寿命及平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure,MTBF).采用Arrhenius模型,依据90℃、80℃、70℃的贮存特征寿命,获得常温下产品的贮存特征寿命.分析结果表明,该方法合理、简便、有效,数据结果可以进一步应用到推导产品常温贮存寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘剑	中国科学院昆明物理研究所	66	379	12.0	17.0
2	王乔方	中国科学院昆明物理研究所	2	0	0.0	0.0
3	郑万祥	中国科学院昆明物理研究所	2	0	0.0	0.0
4	王冲文	中国科学院昆明物理研究所	2	0	0.0	0.0
5	罗瑞	中国科学院昆明物理研究所	7	17	3.0	4.0
6	赵远荣	中国科学院昆明物理研究所	2	0	0.0	0.0