硅脂溶胀协同电晕老化对硅橡胶性能和XLPE/SR界面电荷特性的影响

• 作者: 仇炜 吴锴 崔江静 王华楠 王霞 陈飞鹏
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 硅橡胶 硅脂 溶胀 电晕老化 界面电荷
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘
• 页码范围: 1639-1648
• 页数: 10页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20200224003

摘要

电缆附件绝缘在长期运行过程中受到涂覆硅脂的溶胀作用,同时电缆与附件绝缘界面易发生沿面电晕放电,但是硅脂溶胀协同电晕放电老化对复合界面电荷以及硅橡胶性能的影响尚缺乏研究.为此选取2种极性相近但分子基团不同的硅脂,研究了硅脂溶胀协同电晕老化对硅橡胶表面形态、分子结构与交联结构、表面陷阱分布以及界面空间电荷分布的影响.结果 表明:硅脂溶胀协同电晕老化使得硅脂和硅橡胶的表面出现裂纹,破坏了硅脂和硅橡胶的交联结构.老化后的硅橡胶浅陷阱密度增大,载流子迁移率增加.涂覆与硅橡胶的分子基团相近的硅脂,硅橡胶的迁移率增加更多;而涂覆含有烷烃、环烷烃以及芳香烃的硅脂的硅橡胶氧化较为明显,其红外光谱显示试样表面出现了羰基等极性基团.另外,硅橡胶表面极性和体电导率决定了老化后XLPE/SR界面电荷的极性和衰减速率,涂覆含有烷烃、环烷烃以及芳香烃的硅脂的硅橡胶表面极性大、残余电荷衰减慢,而涂覆与硅橡胶分子基团相近的硅脂的硅橡胶电导率高、电荷衰减快.