基于光谱角背景纯化的高光谱异常检测算法

• 作者: 严阳 华文深 张炎 王强辉 索文凯 黄富瑜
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光谱学 高光谱图像 异常检测 光谱角 背景纯化 局部RX算法
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 光通信与光信息技术
• 页码范围: 623-627
• 页数: 5页
• 分类号: TP751
• 语种: 中文
• DOI: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2020.05.016

摘要

为了解决利用高光谱图像进行异常检测时结果不准确、虚警率较高的问题,提出了一种基于光谱角背景纯化的异常检测算法.该算法以局部RX算法为基础,根据光谱角距离分离出内外窗口间背景像元中的异常成分,得到纯化后的背景像元,然后进行异常检测.为验证算法的有效性,选取了两组机载可见光/红外光成像光谱仪真实高光谱数据进行仿真实验,并与经典的全局RX、局部RX算法进行对比.结果表明,与局部RX算法相比,该算法在两组数据下的曲线下面积分别提高了0.0317和0.0053.这些结果为下一步的研究方向提供了参考.