RF多功能芯片on-wafer评估系统的研究

• 作者: 文忠锋 顾世玲 黄成
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 射频测量 射频多功能芯片 TR组件 芯片评估 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 系统设计与研究
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN386
• 字数: 1816字
• 语种: 中文

摘要

评估RF多功能芯片在不同环境温度下的性能指标是十分重要的,从分析射频多功能芯片功能和主要性能指标出发,研制了一款自动化芯片在片评估系统.采用上位机进行多种芯片工作状态和设备仪器状态控制,实现了芯片在各种不同工作状态不同温度下的测试数据采集、判断和保存.经实际评估验证,该评估系统能高效高可靠性的完成射频多功能芯片在不同环境温度下的on-wafer级性能评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄成	中国电子科技集团公司第二十四研究所	7	8	2.0	2.0
2	文忠锋	中国电子科技集团公司第二十四研究所	2	6	1.0	2.0
3	顾世玲	中国电子科技集团公司第二十四研究所	1	0	0.0	0.0