基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
通过磁粉、X射线、超声波多种无损检测技术的结合应用,确定了缓冲器箱体缺陷类型并对缺陷进行定位,找出了缓冲器箱体存在质量问题的根源.在改进铸造工艺后,缓冲器箱体未发现腔区裂纹,其内部疏松、气孔等缺陷也极大减少,缓冲器箱体铸件质量符合客户要求.
推荐文章
水力缓冲器缓冲特性研究
水力缓冲器
缓冲特性
影响参数
HN-1型缓冲器应用研究
HN-1型缓冲器
结构
性能
可靠性
双等比CMOS缓冲器的设计
双比CMOS缓冲器
双等比CMOS缓冲器
等比CMOS缓冲器
缓冲器耐久试验标准的比较
缓冲器
耐久试验
标准
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 应用多种无损检测技术提升缓冲器箱体质量
来源期刊 铸造 学科 工学
关键词 无损检测 缓冲器箱体 铸件质量
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 检测技术
研究方向 页码范围 58-61
页数 4页 分类号 TG250.6
字数 1439字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙公军 3 2 1.0 1.0
2 陈庚 2 0 0.0 0.0
3 张雨溪 3 0 0.0 0.0
4 郭振峰 2 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (9)
共引文献  (20)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1987(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1988(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1991(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1992(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1995(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1996(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1998(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2014(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2020(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
无损检测
缓冲器箱体
铸件质量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
铸造
月刊
1001-4977
21-1188/TG
大16开
沈阳市铁西区云峰南街17号
8-40
1952
chi
出版文献量(篇)
6789
总下载数(次)
5
总被引数(次)
39127
论文1v1指导