质子成像法测量电容线圈靶磁场

• 作者: 梁雅琼 韩波
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 质子背光成像 激光等离子体 磁场产生 诊断技术
• 年，卷（期）: 2020,（17）
• 所属期刊栏目: 气体、等离子体和放电物理
• 页码范围: 330-338
• 页数: 9页
• 字数: 5149字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.69.20200215

摘要

质子背光成像技术是一种诊断等离子体电磁场的重要诊断手段.当质子穿过等离子体的电磁场,质子受洛伦兹力影响在成像板上重新分布.如何从质子成像结果中重构电磁场是一个非常重要的研究课题.本文以激光驱动电容线圈靶为例介绍和对比了粒子追踪法和流量分析法这两种通过质子成像结果重构磁场的方法.激光驱动电容线圈靶通过激光打靶在电容靶两侧产生电势,然后很强的电流流过线圈,最后产生高达千特斯拉的感应磁场,在激光等离子体实验中这是一种重要的产生磁场的手段.本工作中先使用粒子追踪法在不同强度的理论磁场环境下得到质子成像结果,然后使用流量分析法从这些理论质子成像结果重构磁场,最后对比理论磁场和重构磁场以获得两种方法的优缺点.粒子追踪法可以重现实验中质子源、等离子体磁场和成像板的布局结构,但是依赖于精确的理论磁场的计算和庞大的计算量来模拟质子的轨迹,并需要不断修正理论磁场来获得最接近实验结果的模拟结果.流量分析法可以直接从实验的质子成像结果重构磁场结构.但是,流量分析法只适用于磁场较小的情况,当磁场较大时其重构的磁感应强度会误差较大.可以使用一个无量纲参量μ来衡量质子穿过作用区域单位长度后在成像板上的偏折距离,流量分析法适用于μ ?1的情况.并且靶的结构在质子成像上形成的阴影区域也会造成磁场重构时磁场结构的失真.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁雅琼	北京物资学院物流学院	7	5	1.0	2.0
2	韩波	北京师范大学天文系	1	0	0.0	0.0