基于STM32F103的多通道光测试系统的设计

• 作者: 严建平
• 来源期刊: 广东通信技术
• 关键词: 多通道 偏振相关损耗 插入损耗 回波损耗 光源
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 70-74
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6403.2020.09.016

摘要

介绍一套基于单片机STM32F103的多通道光测试系统的设计方案及实现电路.系统能快速对光偏振相关损耗(PDL)、光插入损耗(IL)、光回波损耗(RL)进行测试,并输出1270、1310、1490、1550、1625 nm五个波长的光源,通过以太网连接电脑界面软件实现半自动测试.各项测试的数据形成报表供打印或储存.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严建平		6	12	2.0	3.0