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摘要:
通过ANSYS有限元仿真技术对2.5D器件中的硅通孔结构进行结构设计、仿真分析.通过对比仿真结果,得出更适用于宇航用高低温循环场景下的硅通孔结构.首先通过对比热循环载荷条件下不同2.5D器件中硅通孔结构的热力学性能;其次选取不同的封装材料对硅通孔结构进行建模,研究不同硅通孔模型中的应力集中行为,并对其长期可靠性进行分析;最终得到更适用于宇航环境的2.5D器件的硅通孔结构.
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文献信息
篇名 2.5D器件中硅通孔结构设计
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 2.5D器件 硅通孔 ANSYS仿真 结构设计
年,卷(期) 2020,(12) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 26-31
页数 6页 分类号 TN305.94
字数 语种 中文
DOI 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1212
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林鹏荣 11 16 3.0 3.0
2 赵文中 1 0 0.0 0.0
3 樊帆 1 0 0.0 0.0
4 谢晓辰 1 0 0.0 0.0
5 杨俊 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
2.5D器件
硅通孔
ANSYS仿真
结构设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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