基于硅油劣化特性对高压电缆终端热状态的测试分析

• 作者: 刘继平 宋鹏先 张静 王伟 程林
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 硅油 老化 微水含量 热状态 红外光谱
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 89-93
• 页数: 5页
• 分类号: TM214|TM216+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2020.03.014

摘要

为了对已经在现场运行了12年的220 kV瓷套管电缆终端异常热状态进行研究,以电缆终端内部填充的硅油为研究对象,进行了傅里叶红外光谱分析、介电性能及微水含量测试.结果 表明:微水含量对硅油的老化状态影响显著,是硅油老化的特征指标之一.在红外光谱中硅油老化特征峰对应于2 360 cm-1附近P-H键的伸缩振动峰,Si-CH3键、-CH3键及Si-O-Si键的特征峰在老化前后变化不大.在温度为90℃时,硅油的介电性能数据能更好地体现出其性能变化的差异,硅油老化后其介电性能的下降主要是由水分含量提高,加剧硅油老化引起的.