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摘要:
在C扫成像检测中,若A扫信号中含有与缺陷回波幅值相当的强噪声干扰,则闸门方法无法正确成像.针对这一问题,提出了一种新的卷积神经网络模型架构,对缺陷A扫信号进行识别,实现了强噪声下的C扫成像检测.网络架构中采用了残差模块,使得利用深层卷积神经网络提取更加抽象特征成为可能;同时在训练中采用了Focal Loss损失函数和联合准确率克服了训练集类别不平衡的影响,有效调高了分类准确率.实验结果表明,在强噪声干扰下,该方法的A扫信号分类识别准确率接近100%,较传统闸门方法提高了20%以上,实现了高质量、高精度的C扫成像.
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文献信息
篇名 基于CNN的强噪声干扰下C扫成像检测方法
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 超声C扫成像检测 强噪声 卷积神经网络 闸门
年,卷(期) 2020,(7) 所属期刊栏目 模式识别与人工智能
研究方向 页码范围 38-43
页数 6页 分类号 TB553|TP391.4
字数 3244字 语种 中文
DOI 10.19708/j.ckjs.2020.04.226
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周世圆 北京理工大学机械与车辆学院 32 208 7.0 13.0
2 程垄 北京理工大学机械与车辆学院 3 0 0.0 0.0
3 胡怡 北京理工大学机械与车辆学院 1 0 0.0 0.0
4 姚鹏娇 北京理工大学机械与车辆学院 2 0 0.0 0.0
5 刘逯航 北京理工大学机械与车辆学院 1 0 0.0 0.0
6 Fasil Kassa 北京理工大学机械与车辆学院 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
超声C扫成像检测
强噪声
卷积神经网络
闸门
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
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