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智能家电电路典型失效机理与设计缺陷
智能家电电路典型失效机理与设计缺陷
作者:
夏江
杨林
纪瑶
肖诗满
陈军
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
智能家电
失效机理
闩锁效应
可靠性设计
摘要:
智能化家电电路功能繁多、系统复杂,系统和电路设计、制造、储藏等过程存在瑕疵或故障,都会导致整机工作异常.收集了智能电冰箱在用户现场的失效电路板,并进行了失效分析,确认其失效机理.提炼了几个跟电路板的设计缺陷有关的典型失效机理,电路接口缺乏足够滤波电路,串扰信号导致微处理器发生闩锁效应;电机等感性负载关断时反馈的电压击穿其驱动芯片或者微处理器;传感器接口引入异常电压导致芯片失效等.针对以上设计缺陷,为了有效提高产品的可靠性、降低产品的返修率,提出电路设计时需要增加滤波和过压保护措施和考虑可靠性设计(DFR).
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片式膜电阻器
工艺流程
失效模式
失效机理
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内容分析
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相关学者/机构
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期刊文献
内容分析
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相关文献总数
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文献信息
篇名
智能家电电路典型失效机理与设计缺陷
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
智能家电
失效机理
闩锁效应
可靠性设计
年,卷(期)
2020,(12)
所属期刊栏目
微电子制造与可靠性
研究方向
页码范围
58-62
页数
5页
分类号
TN605
字数
语种
中文
DOI
10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.1204
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杨林
9
18
3.0
4.0
2
肖诗满
10
43
4.0
6.0
3
陈军
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9
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夏江
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二级参考文献(0)
2020(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
智能家电
失效机理
闩锁效应
可靠性设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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