见所未见

• 作者: Jens Hansen
• 来源期刊: 现代制造
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 技术前沿
• 页码范围: 38-39
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

12年来,ZEISS METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术.第三代计算机断层扫描(C T)系统ZEISS METROTOM 1500更是证明先进、可靠的X射线技术不再可望而不可及.3K探测器实现了更高的分辨率和更快的扫描,连同蔡司坐标测量技术为可信度提供了强有力的保障(图1).除此之外,得益于更高效的空间利用,机器的量程范围更广,占用空间更小.因此,第三代CT系统可在减少空间占用的同时实现更佳的性能表现.