TXRF与EDXRF分析方法对比研究

• 作者: 于桂英 刘伊初 孟德川 赵婷伟 邓玉福
• 来源期刊: 辽宁化工
• 关键词: TXRF EDXRF 分析方法
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 科学研究
• 页码范围: 360-363
• 页数: 4页
• 分类号: TQ016.5+1
• 语种: 中文

摘要

X射线荧光光谱分析法广泛应用于物质成分的定性与定量分析.全反射X射线荧光分析法(TXRF)是在能量色散X射线荧光分析(EDXRF)原理的基础上,加入X射线的全反射技术形成的一种新的表面痕量分析方法.本文从原理、仪器装置及定量定性分析过程等方面,对EDXRF和TXRF进行了对比分析研究.作为一种新的X射线荧光分析方法,TXRF具有灵敏度高、检出限低等特点,同其他检测方法相比,在很多应用领域都显示出很好的优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓玉福		37	141	7.0	9.0
3	孟德川	沈阳师范大学物理科学与技术学院	13	22	3.0	4.0
5	于桂英		26	84	7.0	8.0
6	刘伊初	沈阳师范大学物理科学与技术学院	2	0	0.0	0.0
10	赵婷伟	沈阳师范大学物理科学与技术学院	2	0	0.0	0.0