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摘要:
针对传统检测方法无法在复杂背景下同时获取伪装材料偏振信息与光谱信息的局限性,本文利用高光谱偏振成像技术对典型伪装材料检测并分析其高光谱偏振特性.使用一套分孔径同时式高光谱偏振成像系统,对伪装涂层和伪装网等典型伪装材料进行高光谱偏振检测并解析出伪装材料的9个偏振参量,获得了伪装材料与背景的相对反射率随光谱改变的变化规律.结果表明,利用伪装材料与背景的偏振特性差异,选择合适偏振参量可以增加目标的纹理细节特征并提高其对比度;分析其光谱偏振特性,选择760 nm检测波段有利于快速准确地检测伪装材料.
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文献信息
篇名 典型伪装材料高光谱偏振特性实验检测与分析
来源期刊 红外技术 学科 物理学
关键词 伪装材料 高光谱偏振 偏振参量 相对反射率
年,卷(期) 2020,(12) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 1170-1178
页数 9页 分类号 O436.3
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
伪装材料
高光谱偏振
偏振参量
相对反射率
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
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3361
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13
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30858
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