多电压与扫描链技术在芯片设计中的应用研究

• 作者: 刘东明 向韬鑫 王仁平 陈荣林
• 来源期刊: 电气技术
• 关键词: 低功耗 扫描链 多电压 物理设计 统一标准格式
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 字数: 2700字
• 语种: 中文

摘要

本文针对芯片中功耗高、测试成本较高的问题进行分析与研究,以一款乘加器为例,该乘加器可以切换在乘、加、乘加3种工作状态.在芯片设计过程中,利用统一标准格式技术实现多电压设计达到低功耗的效果,利用扫描链技术,完成可测试性设计,降低芯片的测试成本,并解决了两种技术的兼容性问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王仁平	福州大学物理与信息工程学院	30	33	3.0	4.0
2	刘东明	福州大学物理与信息工程学院	6	2	1.0	1.0
3	向韬鑫	福州大学物理与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
4	陈荣林	福州大学物理与信息工程学院	1	0	0.0	0.0