Ta掺杂Na0.5Bi4.5Ti4O15陶瓷的显微结构和电性能

• 作者: 何新华 陈丹玲 黄志强
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: Na0.5Bi4.5Ti4O15 铋层结构 Ta5+掺杂 介电性能 压电性能
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 93-99
• 页数: 7页
• 分类号: TM282
• 语种: 中文
• DOI: 10.11868/j.issn.1001-4381.2019.000685

摘要

采用固相烧结法制备铋层结构Na0.5 Bi4.5 Tax Ti4-x O15+0.5x(NBT-Ta-x)(x=0～0.20)压电陶瓷.采用X射线衍射、扫描电镜和自动控温测试系统研究Ta5+的B位掺杂对NBT-Ta-x陶瓷的微观结构、电导、介电和压电性能的影响.结果 表明:随Ta掺杂量的增加,晶粒尺寸和长径比逐渐减小,表现出沿c轴的取向生长,同时,陶瓷的理论密度和体积密度增加,在掺杂量x=0.05时达到最高的相对密度96.1％,Ta在NBT晶格中的固溶极限在0.10附近.随Ta5+掺杂量x增加到0.20,陶瓷的居里温度从680℃降至658℃.Ta5+掺杂使NBT-Ta-x陶瓷的电阻率增加了两个数量级,压电常数d33从13.8 pC/N增加到23 pC/N.当x=0.04～0.05时,NBT-Ta-x陶瓷的综合电性能良好:Tc=670～672℃,d33=21.8～23 pC/N,kp=7.9％ ～8.3％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何新华		29	161	7.0	11.0
2	黄志强		2	1	1.0	1.0
3	陈丹玲		2	0	0.0	0.0