不同试验方式对绝缘子污闪特性的影响研究

• 作者: 李新梁 蒋兴良 陈吉 陈成瑞
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: 绝缘子污闪 恒压升降法 均匀升压法 污秽特征指数
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 241-248
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2020.06.037

摘要

绝缘子污闪严重威胁电力系统安全运行,虽然国内外学者积累了大量关于绝缘子污秽试验的经验,但尚未对比研究均匀升压法和恒压升降法的人工试验差异,故笔者利用人工气候室内及交直流试验电源对XZP-300、XWP-300和FXBW-3003种绝缘子进行污闪试验,以探求这两种试验方式的内部联系.结果表明:交直流污闪试验中,均匀升压法测得的结果较恒压升降法高;用污秽特征指数a的相似度来判定是否可以对两种试验方法的结果进行修正,并建议试验差异η小于10％时可以进行修正;修正后的均匀升压法和恒压升降法获得的电压值基本吻合,且修正系数δm与绝缘子的材料和试验电压类型有关;当η的绝对值大于10％,则不宜进行修正.结论可为研究不同试验方式对绝缘子污闪特性的影响提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋兴良		218	5355	38.0	64.0
2	陈吉		13	96	5.0	9.0
3	陈成瑞		2	0	0.0	0.0
4	李新梁		2	0	0.0	0.0