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摘要:
针对任务机内存储器模块存储卡连接器插针接触不良脱焊的质量问题,通过质检数据检查、器件内部结构检查,具体分析了存储器模块存储卡的失效原因,并提出了相应的防护措施,为后期存储器模块的设计改进提出建议并制定相应的预防措施.
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文献信息
篇名 某型存储器模块故障分析
来源期刊 电子测试 学科
关键词 存储器模块 存储卡 预防措施
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 测试工具与解决方案
研究方向 页码范围 108-109,44
页数 3页 分类号
字数 3230字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王鹏 39 26 3.0 4.0
2 许克勤 5 0 0.0 0.0
3 管强 5 0 0.0 0.0
4 王兴延 4 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
存储器模块
存储卡
预防措施
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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