ZnO压敏电阻热电特性的研究

• 作者: 何群 姚学玲 孙伟 王影影 郝斯杰
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: ZnO压敏电阻 压敏电压 荷电率 温度 泄漏电流 功率损耗 老化
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 97-102
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2020.05.015

摘要

ZnO压敏电阻的老化主要由施加电压及温度因素造成,为研究其在工作电压下的热电特性,利用建立的压敏电阻交、直流老化试验平台,开展了热电应力下压敏电阻温度特性、荷电率特性及直流老化特性的试验研究.结果表明:1)直流电压荷电率(电压与压敏电压的比值)在85％～92％区间,泄漏电流和功耗随荷电率增大有下降趋势,而交流电压下两参数随荷电率的增加而增加;2)直流老化试验中,在97％荷电率和145℃温度下,10 K250压敏电阻的泄漏电流经历了快速下降、缓慢上升、激增3个阶段.泄漏电流的剧增点(增长到初始值的900％),压敏电压(流过电阻片的直流电流为1 mA时的直流压敏电压)的变化小于1％,因此,将压敏电压值降为初始值的10％作为老化试验寿命终结判据是否合理有待进一步的研究.