基于汉明码及闩锁检测电路的防辐射效应设计

• 作者: 常远 沈国红 荆涛 路立
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 防辐射设计 汉明码 闩锁检测电路 星上载荷 空间环境 实验测试
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.34-34|TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2020.04.003

摘要

恶劣的空间环境会诱发星上载荷的总剂量效应、单粒子效应、表面充放电效应等问题,导致星上设备在轨发生各种故障.为保证卫星寿命及载荷安全可靠运行,在设计过程中须对载荷进行系统化的防辐射设计.文中针对对航天器载荷影响最大的单粒子效应从电子技术方面给出了汉明码设计和闩锁检测电路设计.经过实践证明,该设计易于实现,能够有效解决单粒子翻转效应和单粒子锁定效应,有效保证星上载荷安全,提高可靠性和使用寿命.