使用粉尘图法研究交流电压下典型GIS绝缘表面缺陷的电场电荷分布

• 作者: 刘卫东 徐洋 高文胜
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: GIS 绝缘子 粉尘图法 表面电场 表面放电
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 211-218
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2020.05.035

摘要

绝缘子在运行电压下产生表面不明原因的闪络是目前GIS安全运行领域面临的关键问题之一,这种闪络被认为很可能与绝缘表面缺陷导致的电场畸变和电荷积聚有关.笔者使用粉尘图法在离线和带电状态下对交流电压作用下的几种典型GIS绝缘表面缺陷,包括绝缘表面金属颗粒、金属尖端、绝缘表面打磨等引起的电场畸变和电荷分布进行了研究,并考虑了缺陷的各项参数对其作用效果的影响.研究结果对于确定不同缺陷导致的绝缘表面电场电荷分布变化,缺陷导致绝缘闪络的过程,以及微小缺陷的发现和诊断具有重要的实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高文胜		52	1517	25.0	38.0
2	刘卫东		119	3261	34.0	54.0
3	徐洋		4	1	1.0	1.0