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基于动态栅电阻的SiC MOSFET驱动电路设计
基于动态栅电阻的SiC MOSFET驱动电路设计
作者:
吴磊
梁剑
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
碳化硅器件
驱动电路
关断过压
开关损耗
摘要:
SiC MOSFET以其开关速度快、开关损耗小、热导率高等特点逐渐成为高功率密度电力电子应用场合的新宠,但是较快的开关速度导致器件开关应力以及振荡严重.提出了一种基于动态栅电阻的SiC MOSFET驱动电路,其可以动态地通过调整栅极电阻来优化SiC MOSFET的开关特性,有效地解决了传统驱动电路不能兼顾损耗与开关应力的缺点.最后,利用1200 V/300 A SiC MOSFET(Cree)通过双脉冲实验证明了动态栅电阻驱动电路对优化开关特性具有明显优势.
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文献信息
篇名
基于动态栅电阻的SiC MOSFET驱动电路设计
来源期刊
电气传动
学科
工学
关键词
碳化硅器件
驱动电路
关断过压
开关损耗
年,卷(期)
2020,(11)
所属期刊栏目
其他
研究方向
页码范围
117-121
页数
5页
分类号
TN386.1
字数
语种
中文
DOI
10.19457/j.1001-2095.dqcd19161
五维指标
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驱动电路
关断过压
开关损耗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电气传动
主办单位:
天津电气传动设计研究所
中国自动化学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2095
CN:
12-1067/TP
开本:
大16开
出版地:
天津市河东区津塘路174号
邮发代号:
6-85
创刊时间:
1959
语种:
chi
出版文献量(篇)
4223
总下载数(次)
7
总被引数(次)
31816
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