一种通用存储器测试装置的设计

• 作者: 宋国栋
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: IC存储器 测试装置
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 19-21
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 语种: 中文

摘要

IC存储器是用来存储信息的,是目前业内使用最多的通用芯片之一,其应用前景非常广泛,目前市面上几乎所有的IC存储器都是基于专业测试机实现其测试以及量产,对专业测试机的依赖度非常高,该文通过引入自制功能性测试装置,在一定程度上既能缓解对测试机的产能需求,降低生产成本,又可能快速评估IC存储器的功能,并模拟实际应用环境,可以为后续该类型电路评估提供一种参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋国栋		6	3	1.0	1.0