基于X射线短时照射的高压直流GIS/GIL绝缘子表面电荷主动消散方法

• 作者: 梁芳蔚1 汪沨1 谢亿2 钟理鹏1 陈赦1
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 直流GIS/GIL 绝缘子 表面电荷 X射线 主动消散
• 年，卷（期）: 2020,（14）
• 所属期刊栏目: 科研快讯
• 页码范围: 3147-3151
• 页数: 5页
• 分类号: TM85
• 字数: 1902字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.200455

摘要

直流气体绝缘开关装置及气体绝缘输电管道(GIS/GIL)绝缘子长期运行过程中会积聚大量表面电荷,易引起绝缘子异常闪络.近年来国内外学者开展了大量卓有成效的工作,深刻揭示了绝缘子表面电荷的积聚和消散机理,但GIS/GIL不打开罐体条件下,绝缘子表面电荷的快速消散问题一直没有解决.该文首次提出基于X射线短时照射的绝缘子表面...

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪沨1	湖南大学电气与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
2	梁芳蔚1	湖南大学电气与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
3	钟理鹏1	湖南大学电气与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
4	陈赦1	湖南大学电气与信息工程学院	1	0	0.0	0.0
5	谢亿2	湖南省电力有限公司电力科学研究院	1	0	0.0	0.0