基于DPA的元器件假冒伪劣判据研究

• 作者: 张雨琪 王怡豪 高成 黄姣英
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 破坏性物理分析 假冒伪劣检测
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 器件与测试
• 页码范围: 124-127,131
• 页数: 5页
• 分类号: TN32
• 语种: 中文

摘要

针对现今市场元器件假冒伪劣手段众多且难以鉴别.在此通过国内外标准的对比分析介绍了假冒伪劣元器件的定义和种类,通过在实际检验工作中提出了将破坏性物理分析(DPA)中内部目检、X射线检查、外部目检和芯片剪切强度等试验方法应用于元器件的假冒伪劣检验,得出了基于DPA的假冒伪劣元器件检验流程,通过多项案例分析得到缺陷判据,最后提出了验证措施.结果 表明,该方法应用于元器件假冒伪劣检验切实有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英		41	128	6.0	10.0
2	高成		42	195	8.0	13.0
3	王怡豪		5	1	1.0	1.0
4	张雨琪		2	1	1.0	1.0