基于V93000的FPGA测试优化方法研究

• 作者: 朱佳雯 黄健
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: FPGA测试 在线配置 测试时间
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 35-37,44
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

基于Xilinx公司的现场可编程门阵列FPGA XC6VLX240T-2FF1156I,JTAG端口配置烧写时间远大于测试时间,并且搭建实装测试平台不适合大批量生产的需求,不能满足此类产品的测试发展需求,该文提出了一种FPGA测试时间优化方法;采用Advantest公司的V93000测试机,通过在周期内加载2行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化,删减芯片配置初始化源码,从而减少测试时间,同时该文也将结合Xilinx公司提供的源码和IP核进行模型仿真生成测试码,提高FPGA芯片测试覆盖率,实验证明此方法大大提高了在线配置的速度,对提高测试效率具有一定的参考价值.