基于PXI某处理器模块ATE设备的设计与实现

• 作者: 曹兴冈 赵斌
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: PXI平台 ATE设计 计量校准
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 智能仪器与传感技术
• 页码范围: 252-257
• 页数: 6页
• 分类号: V271
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2020.05.054

摘要

随着测试技术的飞速发展,高性能、高性价比的PXI测试技术平台应运而生,为了提升产品自动化测试效率,将其应用于处理器模块综合自动测试设备(ATE)的软、硬系统结构设计,其采用模块化、标准化思想,以PXI测试技术标准平台为核心,系统软件配合各硬件模块和信号接口模块,既可以某个参数单项测试,也可全项目参数测试,测试覆盖率95％以上,测试完成按照定义格式系统自动存储测试结果;被测试产品功能、性能正常,投入使用效果良好,并为PXI测试平台应用于ATE设备提供应用实践平台,具有普遍的通用性及广泛的推广性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹兴冈		14	29	3.0	5.0
2	赵斌		2	0	0.0	0.0