并发程序变异测试研究综述

• 作者: 巩敦卫 田甜
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 并发程序 变异测试 变异算子 优化 测试数据生成
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 综述评论
• 页码范围: 2267-2277
• 页数: 11页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2020.11.025

摘要

变异测试是一种面向缺陷的软件测试方法,利用人为注入的缺陷引导测试数据生成,评价测试数据的有效性,在软件工程领域得到了广泛关注.依托多核架构,开发可靠的并发程序越来越迫切.近年来,很多学者尝试将变异测试技术应用于并发程序,以提高并发程序测试的效率和可靠性.首先,介绍了本文工作与已有综述的不同;然后,阐述了与并发程序和变异测试技术相关的知识;接着,从变异实施、变异测试准则、测试数据生成等3方面,综述并发程序变异测试的研究进展,包括:变异算子设计、选择变异、高阶变异、弱变异、测试数据生成方法、变异测试工具等;最后,讨论需要进一步研究的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田甜		6	23	2.0	4.0
2	巩敦卫		1	0	0.0	0.0