基于图形法的超辐射发光二极管性能退化可靠性评估

• 作者: 何怡刚 张学勤 姚瑶 高贺 汪志宁
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 超辐射发光二极管 可靠度 个体分布标识 对数正态分布
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 学术论文|PAPERS
• 页码范围: 77-84
• 页数: 8页
• 分类号: TN365
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B1902809

摘要

超辐射发光二极管(SLD)作为一个重要的特殊光源,针对SLD可靠度和寿命的预测精度要求高的问题,提出了基于图形法的SLD性能退化可靠性评估方法.首先采用加速应力的方式获得SLD的短时间内的无失效数据;其次根据退化轨迹采用最小二乘法进行拟合得到适合于退化轨迹的曲线方程,并根据失效阈值计算出超辐射发光二极管的伪失效寿命;最后采用Minitab对伪失效寿命进行个体分布标识,选用接受度高的对数正态分布,得出常温下失效前的平均工作时间.实验结果表明,该方法可以精准预测SLD的可靠度和寿命,相对于其他方法其精度提高了9.09％.