数字集成电路老化故障高精度预测方法仿真

• 作者: 梁利娟 阮莹
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 数字集成电路 老化故障 预测方法
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 仿真服务化
• 页码范围: 434-437
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 字数: 3986字
• 语种: 中文

摘要

针对传统数字集成电路老化故障预测方法耗时较长、结果误差较大问题,提出一种新的数字集成电路老化故障高精度预测方法.该方法对数字集成电路中存在的信号进行滤波处理,去除噪声信号和冗余信号,分析滤波处理后数字集成电路特征,得到数字集成电路漏电流变化.在此基础上,分析数字集成电路中漏电流变化、阈值电压变化和延迟变化三者之间的关系,进而通过启发式算法完成数字集成电路老化程度的分类,实现数字集成电路老化故障的预测.实验结果表明,所提方法预测效率高、准确率高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁利娟	河南师范大学新联学院	13	9	2.0	2.0
2	阮莹	河南师范大学新联学院	14	15	2.0	3.0