一种提高周期参数测试精度的方法研究

• 作者: 赵桦
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 测试技术 测试机台 计数时间测试单元
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TM935.21
• 语种: 中文

摘要

随着科学技术的快速发展,芯片电路都朝着高速,高精度方向发展,这样对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高.自动测试系统是集成电路大规模生产测试环节必需的系统设备,自动测试系统测试周期参数一般都需要测试两次时间,时间差即为周期,但是如果波形受到干扰严重变形,测得的值和真实值就有一定的偏差,基本上波形变形越大误差越大.该方法通过freq_counter时间处理模块计算单位时间里波形的数量进行测试.实现与传统的测试方式相比,更加快速准确地实现周期参数的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵桦		6	14	3.0	3.0