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摘要:
本文采用导模法生长技术,成功制备了高质量掺Si氧化镓(β-Ga2 O3)单晶,掺杂浓度为2×1018 cm-3.晶体呈现淡蓝色,通过劳厄衍射、阴极荧光(CL)及拉曼测试对晶体的基本性质进行了表征,结果表明晶体质量良好.紫外透过光谱证明该晶体的禁带宽度约为4.71 eV.此外,在剥离衬底上,采用电子束蒸发、光刻和显影技术制备了垂直结构的肖特基二极管,平均击穿场强EAva为2.1 MV/cm,导通电阻3 mΩ·cm2,展示了优异性能.
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文献信息
篇名 高质量氧化镓单晶及肖特基二极管的制备
来源期刊 人工晶体学报 学科 工学
关键词 氧化镓单晶 导模法 n型掺杂 肖特基二极管
年,卷(期) 2020,(11) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 2194-2199
页数 6页 分类号 TN311.7
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
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氧化镓单晶
导模法
n型掺杂
肖特基二极管
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
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16
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