纳米TiO2改性变压器油中电子迁移特性及机制

• 作者: 黄猛 牛铭康 应宇鹏 吕玉珍 葛扬 李成榕
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 纳米粒子 电子迁移率 表面缺陷 浅陷阱 Kerr效应 空间电荷
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 所属期刊栏目: 电介质与电气绝缘|Dielectric and Electrical Insulation
• 页码范围: 4220-4226
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20190902

摘要

电子迁移率是影响变压器油中流注发展及空间电荷分布的关键因素之一,但是其高电场下的测量一直是个难题,现有纳米改性研究中也鲜见纳米粒子影响电子迁移率方面的报道.为此基于Kerr效应电场测量系统搭建了冲击高电场下变压器油中电子迁移率测量平台,测量了不同形状TiO2纳米粒子改性变压器油中的电子迁移率,分析其与纳米粒子表面缺陷态和变压器油的陷阱数密度之间的关系,揭示了纳米粒子对电子迁移率的影响机理.结果表明,文中所提出的方法可有效测量变压器油中电子在冲击高电场下的迁移速率,纳米改性变压器油中所添加的纳米粒子表面缺陷态越多,其浅陷阱数密度越大、电子迁移率越高.分析表明,纳米粒子表面缺陷导致跳跃势垒降低、隧穿概率增大从而引起电子迁移率增大.该方法可用于液体介质电子迁移率的测量,结果可为流注仿真提供关键数据支撑.