片式电阻结构分析技术研究

• 作者: 王坦 邝栗山
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 片式电阻 结构分析 缝隙 腐蚀
• 年，卷（期）: 2020,（9）
• 所属期刊栏目: 结构与工艺
• 页码范围: 176-178
• 页数: 3页
• 分类号: TM54
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9730.2020.09.042

摘要

片式电阻结构和功能相对简单,在航天产品上使用广泛,国产化率也高,但是对于一些高精度和低温度系数的电阻,其可靠性性水平还有待进一步提高.结构分析作为一种新的评价元器件设计、结构、材料和工艺可靠性技术,在设计阶段介入可以及时发现影响电阻性能和可靠性的因素.论文以国产军用片式电阻为对象开展了结构分析,结果表明端电极中的阻挡层未延伸至保护膜上且与内电极之间存在缝隙,使用过程中内电极容易发生腐蚀,引起阻值异常甚至开路.