MMC子模块设备老化机理与状态监测研究综述

• 作者: 刘琛硕 张健 潘亮 祝令瑜 陈世瑛 陈锐
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: MMC 状态监测 老化机理 IGBT 子模块电容器
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-8
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2020.01.001

摘要

模块化多电平换流器(modular multilevel converter,MMC)是柔性直流输电的核心装置,其安全稳定运行对多端柔性直流输电系统的安全具有重要意义.MMC中重要功率设备绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)和金属化聚丙烯薄膜电容器(metallized polypropylene film capacitor,MPPF-Cap)在长期运行过程中逐渐老化,出现内部结构的异常,引起运行特y性参数一定趋势的改变,其工作性能劣化将影响MMC的运行性能.文中总结了国内外关于MMC子模块设备IGBT和MPPF-Cap的老化机理和状态监测方法的研究现状,介绍现有的结合MMC拓扑结构与运行特性的子模块电容器状态监测方法,并展望了MMC子模块设备状态监测与评估领域未来的研究方向.