基于波长调制-直接吸收光谱方法的CO分子1567nm处谱线参数高精度标定

• 作者: 丁艳军 彭志敏 杜艳君 王振
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 波长调制-直接吸收光谱 腔衰荡光谱 吸收率函数 碰撞展宽系数 Dicke收敛系数
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 99-106
• 页数: 8页
• 字数: 4664字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.69.20191865

摘要

直接吸收光谱(DAS)可直接测量分子吸收率函数,并通过拟合吸收率函数确定待测气体参数.波长调制-直接吸收光谱(WM-DAS)在DAS基础上,结合了波长调制光谱(WMS)中谐波分析思想,利用傅里叶变换复现吸收率函数,可有效提高吸收率函数的测量精度.本文利用WM-DAS方法结合长光程气体吸收池,在室温低压条件下,对CO分子1567 nm处R5—R11近红外弱吸收谱线吸收率函数进行了精确复现,其拟合残差标准差低至3×10–5,随后根据测得的吸收率函数对谱线的碰撞展宽、Dicke收敛以及速度依赖的碰撞展宽系数等光谱参数进行了高精度标定,并将其与高灵敏度的连续波腔衰荡光谱(CW-CRDS)测量结果进行了比较,实验结果表明该方法与CW-CRDS测量结果具有高度一致性,更具有系统简单、测量速度快、对环境要求低等优点.