以ARM Cortex-M3载体的分布式生产线异常反馈工装测控系统研究

• 作者: 景鹏斌
• 来源期刊: 自动化技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: ARM Cortex-M3 stm32系列 分布式 测控系统
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 行业应用与交流
• 页码范围: 182-185
• 页数: 4页
• 分类号: TP278
• 语种: 中文

摘要

本文以ARM Cortex-M3为载体设计stm32分布式生产线异常反馈工装测控系统.系统核心测控单元是stm32系列微控制器,芯片能耗低、性价比高、开发难度低、集成度高,接口多元化,而通信总线为CAN总线,抗干扰性较强、传输距离较长、实时性良好、性价比高.首先基于系统流程与软硬件设计测控系统,其次通过构建系统测试环境与数据分析测试系统.测试效果表明,此系统设计结构科学合理,功能完善,实用性与可靠性较高,提高了产线工作效率与质量,为企业带来了良好的综合效益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	景鹏斌		7	7	2.0	2.0