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摘要:
随着CMOS工艺的发展,热载流子效应对沟道热噪声的影响随着器件尺寸的降低而增大,传统热噪声模型未能准确表征沟道的热噪声.本文通过解能量平衡方程,得到电子温度表达式,并结合沟道漏电流表达式,建立了沟道热噪声模型.利用建立的电子温度表达式,该热噪声模型考虑了热载流子效应的影响,并且在计算热噪声的过程中考虑了电子温度对迁移率降低的影响以及温度梯度对热噪声的影响.通过分析与计算,结果显示,随着器件尺寸的减小,温度梯度对电子温度产生显著影响,使得热载流子效应的影响增大,热载流子效应对热噪声的增长作用超过了迁移率降低对热噪声的减小作用,最终导致热噪声增大.本文建立的沟道热噪声模型可应用于纳米尺寸金属-氧化物半导体场效应晶体管器件的噪声性能分析及建模.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 纳米尺度金属-氧化物半导体场效应晶体管沟道热噪声模型
来源期刊 物理学报 学科
关键词 电子温度 迁移率降低 热载流子效应 温度梯度 沟道热噪声
年,卷(期) 2020,(5) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 174-181
页数 8页 分类号
字数 5599字 语种 中文
DOI 10.7498/aps.69.20191512
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姚若河 华南理工大学电子与信息学院 126 611 11.0 18.0
2 刘玉荣 华南理工大学电子与信息学院 31 82 6.0 6.0
3 张梦 华南理工大学电子与信息学院 3 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
电子温度
迁移率降低
热载流子效应
温度梯度
沟道热噪声
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
论文1v1指导