GIS自由颗粒放电缺陷的联合检测与分析

• 作者: 刘佳鑫 唐佳能 毕海涛 郎业兴 鲁旭臣
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: GIS 局部放电检测 特高频 超声波 SF6分解物 自由金属颗粒
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 175-180
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2020.01.026

摘要

针对一起HGIS接地开关气室内的自由金属颗粒放电缺陷,应用局部放电联合检测方法进行了综合检测和定位分析.在特高频和超声波局放检测方法下对自由金属颗粒缺陷特征进行了判别,同时结合SF6气体分解产物检测到的特征气体对自由金属颗粒来源进行判断,并基于平分面法原理对自由颗粒缺陷进行了超声波精确定位.停电并进行现场解体检查,发现筒体底部、静触头内等处残留有金属碎屑.结合接地开关结构和金属碎屑成分进行分析,确定了接地开关在动作过程中存在机械磨损是产生自由金属颗粒的根本原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鲁旭臣		24	75	5.0	7.0
2	毕海涛		10	33	3.0	5.0
3	刘佳鑫		16	36	4.0	5.0
4	郎业兴		8	14	2.0	3.0
5	唐佳能		8	16	3.0	4.0