基于故障树的接口模块Flash测试方法改进研究

• 作者: 孙友涛 曹兴冈 花文波
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 故障树 分析 测试方法
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 107-109
• 页数: 3页
• 字数: 2591字
• 语种: 中文

摘要

故障树分析法是一种系统、可靠、逻辑性强的分析方法.分析接口模块硬件结构,建立User Flash测试故障树模型、对故障分支进行分析,查明测试报故的原因,通过机理分析,改进Flash测试方法并进行验证.结果 表明,改进后的测试方法能有效提高测试通过率和延长芯片使用寿命,具有很强的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙友涛		2	0	0.0	0.0
2	花文波		2	0	0.0	0.0
3	曹兴冈		2	0	0.0	0.0