一种MOS管自动功率老化测试系统的设计

• 作者: 刘浩峰 尹保来 杨修杰 肖鹏
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 可靠性 MOS管 功率老化 极限结温 导通电阻
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 41-43,60
• 页数: 4页
• 分类号: TN386/271
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2020.01.010

摘要

通过分析MOS管结温对器件可靠性的重要性,指出现有老化方法在试验过程中未能达到最高允许结温,老化不充分的问题;提出了一种测试过程中实时测量MOS管导通电阻RDS(ON)推断结温的老化方法,使老化过程中受试器件的结温尽量控制在最高允许结温附近;介绍了自动老化测试系统的构成及工作模式,详细阐述了老化板的工作原理及老化参数标定的方法;以型号为IRFB4019的MOS管作为试验对象,对测试系统进行功能验证;试验结果表明,该老化方法试验过程受试器件结温可控,能够将结温控制在最高允许温度附近,可以更加有效地剔除存在潜在问题的器件,与现有方法相比,老化更充分.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹保来		9	96	5.0	9.0
2	杨修杰		12	108	6.0	10.0
3	肖鹏		13	43	4.0	6.0
4	刘浩峰		4	5	1.0	2.0